关键技术指标
- 型号：IS32
- 测量标准：IEC62132-9
- 频率范围：500MHz~6GHz
- 空间分辨率: 0.02mm
- 测量范围：300mm* 400mm（可扩展）
- 测量一致性：±2dB测量；
- 测量模式：2G/3G/4G LTE/5G/BT/WIFI/UWB/GPS/北斗导航/FM等
产品介绍
带无线射频功能的电子产品，除了要解决常规EMC干扰问题外，射频电路和天线与产品中各电路走线、功能组件、关键IC和元器件等部件之间，也会发生电磁干扰问题。主要表现为射频相关信号干扰其他部件，导致性能功能的下降或丧失。另外，由于产品布局布线、器件选型不佳等原因，产品内一些器件在工作时产生的无意发射电磁噪声也会干扰到射频电路和天线，导致射频灵敏度指标的下降，从而影响产品的无线性能。以上两类问题的解决，必须要能够基于实际场景评估干扰风险，准确分析关联器件和部件的辐射特性及射频抗扰度特性。可视化辐射抗扰度诊断分析系统可用于对芯片、元器件、模组件、FPC、PCBA等部件和整机进行近场辐射抗扰度进行故障模拟、自动化测量、可视化呈现、是解决复杂电磁辐射抗扰度问题的有效工具。
测试自动化软件界面
应用领域
- 芯片、元器件辐射特性测量分析，电磁材料屏蔽、吸波特性测量分析；
- 功能模组件、天线、传感器辐射特性测量分析；
- PCBA、FPCB、模块电路、连接器辐射特性测量分析；
- 整机、系统辐射特性测量分析。
【高效】：扫描速度快，测量时间短，自动化测量，省时、高效；
【精确】：频率分辨率高、噪声源定位精确，数据准确可信，清楚的分析电磁兼容三要素；
【一致】：空间定位精度高，测试数据实时保存，可重复精度高，测量一致性高；
【灵敏】：测量系统底噪低，测量灵敏度高，准确测量分析小信号的辐射和干扰问题；
【可视】：辐射骚扰源分布及噪声位置与芯片、器件、电路走线直接对应，分析结果直观可视；
【智能】：最强噪声源、各频率点噪声、全频谱特性等多维度智能分析，自动生成测试分析报告
