关键技术指标
- 型号：ES 26-ESD
- 测试标准：IEC 61000-4-2
- 空间分辨率：0.03mm
- X、Y方向重复精度：±0.02mm
- α方向重复精度：±0.01°
- 测量范围：300mm* 400mm（可扩展）
- ESD电压：5V~6KV
- 最小步进：5V
- 上升时间：0.7nS
产品介绍
电子产品在做ESD抗扰度测试时，一般会出现硬损坏和软失效两类故障现象，对于硬损坏类的故障，需要找到损坏位置、分析干扰传递的路径，并在合适的位置增加或提升防护能力。对于软失效类的故障，最大的难点在干扰范围大，干扰路径复杂，无法准确的定位敏感源。可视化ESD抗扰度诊断分析系统，按照IEC 61000-4-2 ESD抗扰度标准，通过自动控制系统的驱动，用耦合探头对待测物精准的施加干扰，测试过程中，外围监测设备示波器、综测仪等可实时的测量产品受扰后的性能异常，通过测试软件可实时记录静电干扰的量级和产品的性能指标，当性能下降到预设的失效门限，对应的干扰等级和位置就是PCB板上最敏感的部位。方便的进行受扰源头、抗扰度分析，快速的给出产品级解决方案。
测试自动化软件界面
干扰波形
应用领域
- 芯片、元器件辐射特性测量分析，电磁材料屏蔽、吸波特性测量分析；
- 功能模组件、天线、传感器辐射特性测量分析；
- PCBA、FPCB、模块电路、连接器辐射特性测量分析；
- 整机、系统辐射特性测量分析。
产品特点
- 支持标准ESD波形的抗扰度可视化分析；
- 支持超低的干扰电压，可用于芯片等敏感器件的抗扰度分析；
- 干扰电压步进任意设置，兼顾测试效率及测试精度；
- 精确定位PCB板上受扰位置，快速找到敏感源；
- 自动化测试软件，实时记录干扰等级；
- 产品需重点关注的性能指标可依照客户实际需求进行监测；
- 选定测试区域后，一次性自动化完成测量；
